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  • LQ-TS耐冷熱交變實(shí)驗(yàn)箱
    LQ-TS耐冷熱交變實(shí)驗(yàn)箱

    耐冷熱交變實(shí)驗(yàn)箱與觸摸屏行業(yè)高低溫沖擊試驗(yàn)箱主要測(cè)試觸摸屏產(chǎn)品或觸摸屏行業(yè)相關(guān)的產(chǎn)品及零件等材料在在瞬間下經(jīng)高溫(熱沖擊)及低溫(冷沖擊)的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害??捎脕?lái)做研發(fā)、生產(chǎn)、檢驗(yàn)、試驗(yàn)、實(shí)驗(yàn)用。

    更新時(shí)間:2024-11-15型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱

    冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制,柳沁采用 流行的制冷控制模式,可以0%~100%自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%。制冷及電控關(guān)鍵零配件,使柳沁品牌的半導(dǎo)體冷熱沖

    更新時(shí)間:2024-12-10型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS小型吊藍(lán)式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS小型吊藍(lán)式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    小型吊藍(lán)式冷熱沖擊試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

    更新時(shí)間:2024-12-10型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS提籃式冷熱沖擊箱
    LQ-TS提籃式冷熱沖擊箱

    提籃式冷熱沖擊箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

    更新時(shí)間:2024-12-02型號(hào):LQ-TS
  • 高低溫和冷熱沖擊廠家
    高低溫和冷熱沖擊廠家

    高低溫和冷熱沖擊廠家一種環(huán)境測(cè)試方法,?旨在評(píng)估產(chǎn)品在溫度急劇變化的環(huán)境下的適應(yīng)性和可靠性。?主要涉及產(chǎn)品在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)歷從高溫到低溫或從低溫到高溫的快速溫度變化,?以檢驗(yàn)產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)和性能是否能夠適應(yīng)這種劇烈的溫度波動(dòng)。?這種測(cè)試對(duì)于評(píng)估產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性和可靠性至關(guān)重要,?尤其是在航空航天、?電子、?信息等領(lǐng)域的應(yīng)用中。?測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)包括GB/T 2423.1、?IEC 60068-2-1

    更新時(shí)間:2024-12-02型號(hào):
  • LQ-TS電子產(chǎn)品高低溫沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS電子產(chǎn)品高低溫沖擊試驗(yàn)箱

    電子產(chǎn)品高低溫沖擊試驗(yàn)箱用壓縮機(jī)為主的制冷系統(tǒng)制冷產(chǎn)生低溫(也稱(chēng)冷溫)及在加熱系統(tǒng)中產(chǎn)生的高溫(也稱(chēng)熱溫)中兩溫度經(jīng)過(guò)控制器操控來(lái)回沖擊試驗(yàn)led產(chǎn)品或配件,檢測(cè)其所受的在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)極冷溫及極熱溫的連續(xù)循環(huán)環(huán)境下所能承受的物理變化。

    更新時(shí)間:2024-11-19型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS可程式冷熱沖擊測(cè)試試驗(yàn)箱
    LQ-TS可程式冷熱沖擊測(cè)試試驗(yàn)箱

    可程式冷熱沖擊測(cè)試試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

    更新時(shí)間:2024-11-19型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS吊籃式兩廂冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS吊籃式兩廂冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    吊籃式兩廂冷熱沖擊試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

    更新時(shí)間:2024-11-19型號(hào):LQ-TS
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