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快速高低溫沖擊實驗箱

簡要描述:快速高低溫沖擊實驗箱,因為溫度可以隨時變化做試驗,所以也能稱它為溫沖溫變箱。此設(shè)備的主要特點是溫度試驗可以設(shè)定快速沖擊及快速變化,快可以在3秒鐘內(nèi)從高溫變到低溫,5分鐘內(nèi)完成沖擊 效果。破壞能力強,功率比普通高低溫試驗箱高出許多倍。所以技術(shù)難度及成本也相對高許多。

  • 產(chǎn)品型號:LQ-TS
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-11-15
  • 訪  問  量:1222

詳細介紹

品牌柳沁科技產(chǎn)地國產(chǎn)
產(chǎn)品新舊全新自動化程度其他
尺寸800*1000*1000

快速高低溫沖擊實驗箱,因為溫度可以隨時變化做試驗,所以也能稱它為溫沖溫變箱。此設(shè)備的主要特點是溫度試驗可以設(shè)定快速沖擊及快速變化,快可以在3秒鐘內(nèi)從高溫變到低溫,5分鐘內(nèi)完成沖擊 效果。破壞能力強,功率比普通高低溫試驗箱高出許多倍。所以技術(shù)難度及成本也相對高許多。該試驗設(shè)備主要用于對電工、電子產(chǎn)品,以及其元器件等各類產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在高溫與低溫瞬間變化條件下,對原產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬試驗,試驗后,通過檢測,來判斷相關(guān)產(chǎn)品的性能是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供各類產(chǎn)品的設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

 

標(biāo)準(zhǔn)型型號(另:可根據(jù)客戶要求定做):

LQ-TS--80 內(nèi)箱尺寸:500×400×400 外箱尺寸:1800×1800×1440。

LQ-TS--150 內(nèi)箱尺寸:600×500×500 外箱尺寸:1800×1900×1540。

LQ-TS--250 內(nèi)箱尺寸:700×600×600 外箱尺寸:1900×2000×1640。

LQ-TS-S-480 內(nèi)箱尺寸:800×800×750 外箱尺寸:2020×2250×2150。

 

快速高低溫沖擊實驗箱|半導(dǎo)體高低溫沖擊試驗箱的測控系統(tǒng):

1.控制器: 7寸觸屏中英文顯示器+PLC﹙控制軟件﹚+溫控模塊。

2.運行方式:程序方式。

﹙1﹚控制對象 試驗區(qū)曝露溫度。

高溫恒溫區(qū)預(yù)熱溫度。

低溫恒溫區(qū)預(yù)熱溫度。

低溫恒溫區(qū)除霜溫度。

﹙2﹚指示精度 0.1℃。

﹙3﹚輸 入 熱電偶 TDIN。

﹙4﹚控制方式 微電腦PID+SSR控制。

3.設(shè)定方式:中文菜單,觸摸屏方式輸入。

4.程序容量:100組程式,每個程序3步;每個程序可設(shè)1000次循環(huán),循環(huán)設(shè)定9999cycles。

5.設(shè)定范圍:預(yù)熱預(yù)冷箱區(qū)。

高溫室預(yù)熱溫度上限:+200℃。

低溫室預(yù)冷溫度下限:-75℃。

試驗室﹙試樣區(qū)﹚。

溫度沖擊上限:+150℃。

溫度沖擊下限:-65℃。

6.顯示分辨率:溫度:0.1℃ 時間:0.1min。

7.通訊功能:RS-232接口及USB接口,具有本地和遠程通訊功能。

8.控制方式:抗積分飽和PID,模糊算法;BTC平衡調(diào)溫控制方式。

9.附屬功能:故障報警及原因、處理提示功能、超溫保護、故障記錄、上下限溫度保護、傳感器上下風(fēng)選擇、斷電保護、試驗暫停、報警輸出、時間信號輸出,試驗結(jié)束輸出、溫度到達輸出、定時啟動及自動停止功能、自診斷功能。

 

 

所滿足的標(biāo)準(zhǔn)有以下:

GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫;GJB360.7-87溫度沖擊試驗;GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 2423.22-2002溫度變化;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則;SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式;SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備;GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高低溫試驗導(dǎo)則;GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則;GJB150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分高溫試驗;GB/T2423.22-1989溫度變化試驗;GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗;GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗;GJB367.2-1987 通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗方法;GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗;IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化;EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估;QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則 汽車行業(yè)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)等等包括其它產(chǎn)品行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

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